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MIT Technology Review

Visión editorial CMadrid

La inevitable debilidad de las métricas

Imagen de la noticia: La inevitable debilidad de las métricas (MIT Technology Review)

Hay muchas cosas útiles que una métrica puede revelar. Hay incluso más que puede oscurecer o corromper. Me llevó más de una década seguir mi propia vida con cada vez mayor detalle para apreciar plenamente esta dualidad, que probablemente revela algo tanto sobre mí como sobre la naturaleza de la medición. Me gusta mucho…

Por qué importa para Chile y Latam

Lectura CMadrid: los cambios en IA suelen trasladarse a costos, empleo y competencia en la región; vale evaluar impacto en estrategia digital local.

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